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Título : Estadística y muestreo Tipo de documento: texto impreso Autores: Ciro Martínez Bencardino, Autor Mención de edición: Decimocuarta edición Editorial: Bogotá : Ecoe Ediciones Fecha de publicación: 2019 Colección: Ciencias Básicas Número de páginas: viii, 874 páginas Il.: diagramas, tablas Dimensiones: 28 cm ISBN/ISSN/DL: 978-958-771-743-3 Idioma : Español (spa) Clasificación: [Agneaux] Estadística matemática
[Agneaux] MuestreoClasificación: 519.53 Estadísticas descriptivas, análisis multivariado, análisis de varianza y covarianza Nota de contenido: Conceptos generales -- Distribuciones de frecuencias -- Medidas de posición y de tendencia -- Medidas de dispersión, de deformación y apuntamiento -- Nociones elementales de probabilidad -- Distribuciones de probabilidad -- Distribuciones muestrales. Muestreo aleatorio
Pruebas de hipótesis y límites de confianza -- Otras pruebas de hipótesis -- Números indices -- Series cronológicas -- Regresión y correlación -- Algunos métodos de muestreo.Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=112458 Estadística y muestreo [texto impreso] / Ciro Martínez Bencardino, Autor . - Decimocuarta edición . - Bogotá : Ecoe Ediciones, 2019 . - viii, 874 páginas : diagramas, tablas ; 28 cm. - (Ciencias Básicas) .
ISBN : 978-958-771-743-3
Idioma : Español (spa)
Clasificación: [Agneaux] Estadística matemática
[Agneaux] MuestreoClasificación: 519.53 Estadísticas descriptivas, análisis multivariado, análisis de varianza y covarianza Nota de contenido: Conceptos generales -- Distribuciones de frecuencias -- Medidas de posición y de tendencia -- Medidas de dispersión, de deformación y apuntamiento -- Nociones elementales de probabilidad -- Distribuciones de probabilidad -- Distribuciones muestrales. Muestreo aleatorio
Pruebas de hipótesis y límites de confianza -- Otras pruebas de hipótesis -- Números indices -- Series cronológicas -- Regresión y correlación -- Algunos métodos de muestreo.Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=112458
Estadística y muestreo
Martínez Bencardino, Ciro - Bogotá : Ecoe Ediciones - 2019
Conceptos generales -- Distribuciones de frecuencias -- Medidas de posición y de tendencia -- Medidas de dispersión, de deformación y apuntamiento -- Nociones elementales de probabilidad -- Distribuciones de probabilidad -- Distribuciones muestrales. Muestreo aleatorio
Pruebas de hipótesis y límites de confianza -- Otras pruebas de hipótesis -- Números indices -- Series cronológicas -- Regresión y correlación -- Algunos métodos de muestreo.Reserva
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Código de barras Signatura Tipo de medio Ubicación Sección Estado 39156-90018-01 519.53 M26 2019 Libros Biblioteca Central Area Ingenierías ( 1er. Piso ) Disponible Geometría Descriptiva y sus Aplicaciones. Curvas y superficies / Ángel Taibo Fernández / Madrid : Tébar Flores (2010)
Título de serie: Geometría Descriptiva y sus Aplicaciones Título : Curvas y superficies Tipo de documento: texto impreso Autores: Ángel Taibo Fernández, Autor Mención de edición: Segunda edición Editorial: Madrid : Tébar Flores Fecha de publicación: 2010 Número de páginas: Tomo 2: 446 páginas Il.: diagramas Dimensiones: 24 cm ISBN/ISSN/DL: 978-84-7360-274-7 Nota general: Incluye referencias bibliográficas Idioma : Español (spa) Clasificación: [Agneaux] DESARROLLO ECONÓMICO - PERÚ
[Agneaux] HUMEDAD EN EDIFICIOS
[Agneaux] MuestreoClasificación: 621.47 Ingeniería de la energía solar Nota de contenido: Curvas -- Superficies -- Poliedros regulares -- Prisma y pirámide -- Cono -- Desarrollo del cono -- Cilindro -- Desarrollo del cilindro -- Hélice y helizoide desarrollable -- Superficies regladas alabeadas -- Paraboloide hiperbólico -- Superficies regladas alabeadas varias -- Esfera -- Superficies curvas de segundo grado -- Superficies curvas varias -- Planos tangentes sujetos a condiciones especiales e Intersección de superficies -- Intersección de superficies. Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=30918 Geometría Descriptiva y sus Aplicaciones. Curvas y superficies [texto impreso] / Ángel Taibo Fernández, Autor . - Segunda edición . - Madrid : Tébar Flores, 2010 . - Tomo 2: 446 páginas : diagramas ; 24 cm.
ISBN : 978-84-7360-274-7
Incluye referencias bibliográficas
Idioma : Español (spa)
Clasificación: [Agneaux] DESARROLLO ECONÓMICO - PERÚ
[Agneaux] HUMEDAD EN EDIFICIOS
[Agneaux] MuestreoClasificación: 621.47 Ingeniería de la energía solar Nota de contenido: Curvas -- Superficies -- Poliedros regulares -- Prisma y pirámide -- Cono -- Desarrollo del cono -- Cilindro -- Desarrollo del cilindro -- Hélice y helizoide desarrollable -- Superficies regladas alabeadas -- Paraboloide hiperbólico -- Superficies regladas alabeadas varias -- Esfera -- Superficies curvas de segundo grado -- Superficies curvas varias -- Planos tangentes sujetos a condiciones especiales e Intersección de superficies -- Intersección de superficies. Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=30918
Geometría Descriptiva y sus Aplicaciones. Curvas y superficies
Taibo Fernández, Ángel - Madrid : Tébar Flores - 2010
Incluye referencias bibliográficas
Curvas -- Superficies -- Poliedros regulares -- Prisma y pirámide -- Cono -- Desarrollo del cono -- Cilindro -- Desarrollo del cilindro -- Hélice y helizoide desarrollable -- Superficies regladas alabeadas -- Paraboloide hiperbólico -- Superficies regladas alabeadas varias -- Esfera -- Superficies curvas de segundo grado -- Superficies curvas varias -- Planos tangentes sujetos a condiciones especiales e Intersección de superficies -- Intersección de superficies.
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Código de barras Signatura Tipo de medio Ubicación Sección Estado 16-2058-01 516.6 T15 T.2 Libros Bib. Esp. Ciencias Educación Estanteria (Libros) Disponible 35-02022-01 516.6 T15 T.2 Libros Bib. Esp. Ing Agricola Estanteria (Libros) Disponible 35-02601-02 516.6 T15 T.2 Libros Bib. Esp. Ing Agricola Estanteria (Libros) Disponible 35-02602-03 516.6 T15 T.2 Libros Bib. Esp. Ing Agricola Estanteria (Libros) Disponible 03-0123-01 516.6 T15 T.2 Libros Bib. Esp. Ing. Topografica Estanteria (Libros) Disponible 26747-72425-01 516.6 T15 T.2 Libros Biblioteca Central Area Ingenierías ( 1er. Piso ) Disponible 26747-72426-02 516.6 T15 T.2 Libros Biblioteca Central Area Ingenierías ( 1er. Piso ) Disponible 26747-74055-03 516.6 T15 T.2 Libros Biblioteca Central Area Ingenierías ( 1er. Piso ) Disponible 26747-74056-04 516.6 T15 T.2 Libros Biblioteca Central Area Ingenierías ( 1er. Piso ) Disponible 26747-74057-05 516.6 T15 T.2 Libros Biblioteca Central Area Ingenierías ( 1er. Piso ) Disponible
Título : Introducción al muestreo Tipo de documento: texto impreso Autores: Adela Abad, Autor ; Luis A. Servin, Autor Mención de edición: Segunda edición Editorial: México, D.F. : Limusa Fecha de publicación: 1990 Número de páginas: 216 páginas Il.: tablas, diagramas Dimensiones: 23 cm ISBN/ISSN/DL: 978-968-18-1542-4 Nota general: Incluye referencias bibliográficas Clasificación: [Agneaux] Estadística
[Agneaux] MuestreoClasificación: 519.52 Teoría del muestreo Nota de contenido: Algunos conceptos estadíticos y de muestreo -- Muestreo aleatorio simple (continuación) -- Muestreo estratificado -- Muestreo por conglomerados y muestreo sistemático -- Submuestreo Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=5250 Introducción al muestreo [texto impreso] / Adela Abad, Autor ; Luis A. Servin, Autor . - Segunda edición . - México, D.F. : Limusa, 1990 . - 216 páginas : tablas, diagramas ; 23 cm.
ISBN : 978-968-18-1542-4
Incluye referencias bibliográficas
Clasificación: [Agneaux] Estadística
[Agneaux] MuestreoClasificación: 519.52 Teoría del muestreo Nota de contenido: Algunos conceptos estadíticos y de muestreo -- Muestreo aleatorio simple (continuación) -- Muestreo estratificado -- Muestreo por conglomerados y muestreo sistemático -- Submuestreo Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=5250
Introducción al muestreo
Abad, AdelaServin, Luis A. - - México, D.F. : Limusa - 1990
Incluye referencias bibliográficas
Algunos conceptos estadíticos y de muestreo -- Muestreo aleatorio simple (continuación) -- Muestreo estratificado -- Muestreo por conglomerados y muestreo sistemático -- Submuestreo
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