La cara oculta de los test de inteligencia / Anastasio Ovejero Bernal / Madrid : Biblioteca Nueva (2003)
La cara oculta de los test de inteligencia : un análisis crítico [texto impreso] / Anastasio Ovejero Bernal, Autor . - Primera edición . - Madrid : Biblioteca Nueva, 2003 . - 317 páginas ; 24 cm. - (Psicología Universidad) .
ISBN : 978-84-9742-105-8 Incluye referencias bibliográficos Idioma : Español (spa)
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