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| Título : |
Muestreo : diseño y análisis |
| Tipo de documento: |
texto impreso |
| Autores: |
Sharon L. Lohr, Autor ; Óscar Alfredo Palmas Velasco, Traductor ; Óscar Alfredo Palmas Velasco, Traductor ; Óscar Alfredo Palmas Velasco, Traductor |
| Mención de edición: |
Primera edición |
| Editorial: |
México, D. F. : International Thomson Editores |
| Fecha de publicación: |
2000 |
| Número de páginas: |
xiii, 480 páginas |
| Il.: |
ilustraciones, diagramas, tablas |
| Dimensiones: |
25 cm |
| ISBN/ISSN/DL: |
978-970-686-017-0 |
| Nota general: |
Incluye referencias bibliográficas; índice de autores; índice analítico; apéndices. Título original el inglés: Sampling: design and analysis |
| Idioma : |
Español (spa) Idioma original : Inglés (eng) |
| Clasificación: |
[Agneaux] ABOGADOS - FORMACIÓN PREFESIONAL
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| Clasificación: |
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| Nota de contenido: |
Introducción -- Muestras de probabilidades simples -- Estimación por razones y por regresión -- Muestreo estratificado -- Muestreo por conglomerados con probabilidades idénticas -- Muestreo con probabilidades diferentes -- Encuestas complejas -- Ausencia de respuesta -- Estimación de la varianza en encuestas complejas -- Análisis de datos categóricos en encuestas complejas -- Regresión con datos de encuestas complejas -- Otros temas de muestreo. |
| Link: |
https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=22868 |
Muestreo
Lohr, Sharon L. -
México, D. F. : International Thomson Editores - 2000
Incluye referencias bibliográficas; índice de autores; índice analítico; apéndices. Título original el inglés: Sampling: design and analysis
Introducción -- Muestras de probabilidades simples -- Estimación por razones y por regresión -- Muestreo estratificado -- Muestreo por conglomerados con probabilidades idénticas -- Muestreo con probabilidades diferentes -- Encuestas complejas -- Ausencia de respuesta -- Estimación de la varianza en encuestas complejas -- Análisis de datos categóricos en encuestas complejas -- Regresión con datos de encuestas complejas -- Otros temas de muestreo.
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