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Test Your Own Aptitude,Tu Propio Examen de Inteligencia / BARRET, Jim / London : Kogan Page (1991)

Título :	Test Your Own Aptitude,Tu Propio Examen de Inteligencia
Tipo de documento:	texto impreso
Autores:	BARRET, Jim ; WILLIAMS, Geoff ; WILLIAMS, Geoff ; WILLIAMS, Geoff
Editorial:	London : Kogan Page
Fecha de publicación:	1991
Número de páginas:	213
Il.:	ilus.
ISBN/ISSN/DL:	978-1-85091-919-3
Palabras clave:	; PRUEBAS DE CONOCIMIENTO APTITUDES HABILIDADES DESARROLLO MENTAL MOTIVACIONES PRUEBAS DE PERSONALIDAD
Link:	https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=18506

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Test Your Own Aptitude,Tu Propio Examen de Inteligencia