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Hacer una sugerencia Refinar búsquedaBases de datos relacionales Teoría y práctica / Fray León Osorio Rivera / Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano (2008)
Título : Bases de datos relacionales Teoría y práctica Tipo de documento: texto impreso Autores: Fray León Osorio Rivera, Autor Mención de edición: 1a ed. Editorial: Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano Fecha de publicación: 2008 Número de páginas: 245 p. Il.: ils.; grafs. Dimensiones: 23 cm. ISBN/ISSN/DL: 978-958-8351-42-1 Nota general: Incluye Glosario de terminos, ïndice alfabético, Bibliografía. Idioma : Español (spa) Nota de contenido: Conceptos básicos y modelo Entidad-relación -- Conceptos básicos de las bases de datos -- Modelado conceptual (Entidad-Relación) -- Modelado relacional -- Conceptos básicos del modleo relacional -- Lenguaje de consulta formales -- Lenguajes de consulta comerciales -- Implementacion y administración de las bases de datos -- DBMS microsoft sql server -- Instrucciones básicas del transact-SQL y management importar y exportar imformación -- Programacion en base de datos -- El lenguaje Transact-SQL y procedimientos almacenados -- Programacion de desencadenadores (Triggers) -- Funciones del usaurio -- Integración con el CLR -- Reporting Services. Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=96173 Bases de datos relacionales Teoría y práctica [texto impreso] / Fray León Osorio Rivera, Autor . - 1a ed. . - Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano, 2008 . - 245 p. : ils.; grafs. ; 23 cm.
ISBN : 978-958-8351-42-1
Incluye Glosario de terminos, ïndice alfabético, Bibliografía.
Idioma : Español (spa)
Nota de contenido: Conceptos básicos y modelo Entidad-relación -- Conceptos básicos de las bases de datos -- Modelado conceptual (Entidad-Relación) -- Modelado relacional -- Conceptos básicos del modleo relacional -- Lenguaje de consulta formales -- Lenguajes de consulta comerciales -- Implementacion y administración de las bases de datos -- DBMS microsoft sql server -- Instrucciones básicas del transact-SQL y management importar y exportar imformación -- Programacion en base de datos -- El lenguaje Transact-SQL y procedimientos almacenados -- Programacion de desencadenadores (Triggers) -- Funciones del usaurio -- Integración con el CLR -- Reporting Services. Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=96173
Bases de datos relacionales Teoría y práctica
Osorio Rivera, Fray León - Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano - 2008
Incluye Glosario de terminos, ïndice alfabético, Bibliografía.
Conceptos básicos y modelo Entidad-relación -- Conceptos básicos de las bases de datos -- Modelado conceptual (Entidad-Relación) -- Modelado relacional -- Conceptos básicos del modleo relacional -- Lenguaje de consulta formales -- Lenguajes de consulta comerciales -- Implementacion y administración de las bases de datos -- DBMS microsoft sql server -- Instrucciones básicas del transact-SQL y management importar y exportar imformación -- Programacion en base de datos -- El lenguaje Transact-SQL y procedimientos almacenados -- Programacion de desencadenadores (Triggers) -- Funciones del usaurio -- Integración con el CLR -- Reporting Services.
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Título : Metrología : Aseguramiento metrológico industrial Tipo de documento: texto impreso Autores: Jaime Retrepo Díaz, Autor Mención de edición: 1a ed. Editorial: Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano Fecha de publicación: 2007 Número de páginas: T. 1, 132 p. Il.: diagrs.; gráfs.; ils.; tbls. Dimensiones: 23 cm. ISBN/ISSN/DL: 978-958-97823-7-8 Nota general: Incluye referencias bibliográficas Idioma : Español (spa) Clasificación: 341 Derecho - Filosofía Nota de contenido: La medida -- La metrología -- Servicio nacional de metrología -- Sistema internacional de unidades "SI" -- Reglas generales para el uso del sistema internacional de unidades en Colombia -- Gestión metrológica -- Análisis de la incertidumbre de la medición -- Análisis de la repetibilidad y reproducibidad (R&R) -- Control metrológico. Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=93506 Metrología : Aseguramiento metrológico industrial [texto impreso] / Jaime Retrepo Díaz, Autor . - 1a ed. . - Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano, 2007 . - T. 1, 132 p. : diagrs.; gráfs.; ils.; tbls. ; 23 cm.
ISBN : 978-958-97823-7-8
Incluye referencias bibliográficas
Idioma : Español (spa)
Clasificación: 341 Derecho - Filosofía Nota de contenido: La medida -- La metrología -- Servicio nacional de metrología -- Sistema internacional de unidades "SI" -- Reglas generales para el uso del sistema internacional de unidades en Colombia -- Gestión metrológica -- Análisis de la incertidumbre de la medición -- Análisis de la repetibilidad y reproducibidad (R&R) -- Control metrológico. Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=93506
Metrología
Retrepo Díaz, Jaime - Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano - 2007
Incluye referencias bibliográficas
La medida -- La metrología -- Servicio nacional de metrología -- Sistema internacional de unidades "SI" -- Reglas generales para el uso del sistema internacional de unidades en Colombia -- Gestión metrológica -- Análisis de la incertidumbre de la medición -- Análisis de la repetibilidad y reproducibidad (R&R) -- Control metrológico.
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Título : Metrología : Aseguramiento Metrológico Industrial Tipo de documento: texto impreso Autores: Jaime Restrepo Díaz, Autor Mención de edición: 1a ed. Editorial: Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano Fecha de publicación: 2008 Número de páginas: T. 2, 162 p. Il.: diagrs.; gráfs.; ils.; tbls. Dimensiones: 23 cm. ISBN/ISSN/DL: 978-958-8351-44-5 Nota general: Incluye referencias bibliográficas Idioma : Español (spa) Clasificación: 341 Derecho - Filosofía Nota de contenido: Metrología aplicada -- Laboratorio de metrología -- Metrología dimensional -- Presión -- Masas y balanzas -- Fuerza. Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=93509 Metrología : Aseguramiento Metrológico Industrial [texto impreso] / Jaime Restrepo Díaz, Autor . - 1a ed. . - Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano, 2008 . - T. 2, 162 p. : diagrs.; gráfs.; ils.; tbls. ; 23 cm.
ISBN : 978-958-8351-44-5
Incluye referencias bibliográficas
Idioma : Español (spa)
Clasificación: 341 Derecho - Filosofía Nota de contenido: Metrología aplicada -- Laboratorio de metrología -- Metrología dimensional -- Presión -- Masas y balanzas -- Fuerza. Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=93509
Metrología
Restrepo Díaz, Jaime - Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano - 2008
Incluye referencias bibliográficas
Metrología aplicada -- Laboratorio de metrología -- Metrología dimensional -- Presión -- Masas y balanzas -- Fuerza.
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Título : Metrología : Aseguramiento Metrológico Industrial Tipo de documento: texto impreso Autores: Jaime Restrepo Díaz, Autor Mención de edición: 1a ed. Editorial: Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano Fecha de publicación: 2010 Número de páginas: Tomo III, 195 p. Il.: diagrs.; gráfs.; ils.; tbls. Dimensiones: 23 cm. ISBN/ISSN/DL: 978-958-8351-84-1 Nota general: Incluye referencias bibliográficas Idioma : Español (spa) Clasificación: 341 Derecho - Filosofía Nota de contenido: Magnitudes -- Mediciones -- Resultados de mediciones -- Características de los instrumentos de medida -- Temperatura -- Mediciones eléctricas -- Volumetría -- Higrometría. Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=93511 Metrología : Aseguramiento Metrológico Industrial [texto impreso] / Jaime Restrepo Díaz, Autor . - 1a ed. . - Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano, 2010 . - Tomo III, 195 p. : diagrs.; gráfs.; ils.; tbls. ; 23 cm.
ISBN : 978-958-8351-84-1
Incluye referencias bibliográficas
Idioma : Español (spa)
Clasificación: 341 Derecho - Filosofía Nota de contenido: Magnitudes -- Mediciones -- Resultados de mediciones -- Características de los instrumentos de medida -- Temperatura -- Mediciones eléctricas -- Volumetría -- Higrometría. Link: https://biblioteca.unap.edu.pe/opac_css/index.php?lvl=notice_display&id=93511
Metrología
Restrepo Díaz, Jaime - Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano - 2010
Incluye referencias bibliográficas
Magnitudes -- Mediciones -- Resultados de mediciones -- Características de los instrumentos de medida -- Temperatura -- Mediciones eléctricas -- Volumetría -- Higrometría.
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